產(chǎn)品特點(diǎn)：KD產(chǎn)品主要有裂紋測(cè)深、超聲波測(cè)厚、超聲波探傷、涂層測(cè)厚儀、磁粉探傷、磁粉耗材、剩磁檢測(cè)、全自動(dòng)超聲/磁粉探傷設(shè)備，廣泛應(yīng)用在航空航天、汽車、機(jī)械、冶金、鑄造、鍛造、石油、化工等行業(yè)。

詳細(xì)介紹

Pocket-LEPTOSKOP2026涂層測(cè)厚儀(兩用型)的技術(shù)參數(shù)：

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技術(shù)	B/W-LCD ,背光燈帶有發(fā)光板
可視區(qū)域	約25mm*16mm
分辨率	128 x 64 pix
測(cè)量類型
2018 NFe	測(cè)量范圍: 0 .. 1200 µm (47 mils) 測(cè)量方法: 渦流法符合標(biāo)準(zhǔn)DIN EN ISO 2360
2021 Fe	測(cè)量范圍: 0 .. 3000 µm (120 mils) 測(cè)量方法: 磁感應(yīng)法符合標(biāo)準(zhǔn)DIN EN ISO 2178
2026 Fe/NFe	對(duì)金屬的測(cè)量類型自動(dòng)判斷測(cè)量方法鐵磁體的測(cè)量: 磁感應(yīng)法符合標(biāo)準(zhǔn) (DIN EN ISO 2178) 非鐵磁體的測(cè)量: 渦流法符合標(biāo)準(zhǔn) (DIN EN ISO 2360)
校準(zhǔn)模式	通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)面或曲面的對(duì)比實(shí)行零點(diǎn)和終點(diǎn)的校準(zhǔn)
測(cè)量誤差/測(cè)量精度在ST52 上2點(diǎn)校準(zhǔn)后	涂層 < 100 µm: 1 % +/- 1.5 µm 涂層 100 µm to 1200 µm: 1 to 3 % +/- 1 µm 涂層 > 1200 µm: 3 to 5 % +/- 1 µm
操作
類型	菜單向?qū)?/p>
語(yǔ)言	德語(yǔ), 英語(yǔ), 法語(yǔ), 西班牙語(yǔ), 意大利語(yǔ), 葡萄牙語(yǔ), 瑞典語(yǔ) (其他語(yǔ)言根據(jù)要求增加)
輸入／輸出
連接接口	2.5mm立體接口，通過(guò)適合RS２３２的適配器線連接
發(fā)聲器	確認(rèn)測(cè)量值（單次測(cè)量），鍵盤聲，電池沒(méi)電情況下的信號(hào)聲
其他
測(cè)量單位	可選擇um,mm, mil, inch
電源
電池操作	1節(jié)堿性／錳電池（ＡＡＡ，微型）
電池壽命	70小時(shí) 無(wú)背景燈（開背景燈，會(huì)減小電池壽命）
電池容量提示	在低電壓之前儀器在屏幕上有信號(hào)報(bào)警，也有聲音報(bào)警
操作環(huán)境
操作溫度	0 °C to +45 °C
存放溫度	-20 °C to +60 °C 無(wú)電池 0 °C to +45 °C 有電池
空氣灰塵含量和濕度	防護(hù)等級(jí)IP 40 (防止入口處的顆粒>= 1 mm)
外型
大小	489417mm （HWD）
重量	約70 g, 2.6 oz
材料	ABS, 黑
鍵盤
設(shè)計(jì)	4按鍵，箔按鍵