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考古陶瓷檢測(cè)儀器,天瑞儀器

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江蘇天瑞儀器股份有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

、文物簡(jiǎn)介文物因其特殊的屬性而具有較高的觀賞價(jià)值和經(jīng)濟(jì)價(jià)值，正因?yàn)檫@樣，大量的假貨、贗品充斥市場(chǎng)也就在所難免了，為了辯識(shí)文物的真?zhèn)?，文物鑒定工作越來(lái)越受到社會(huì)各界的廣泛關(guān)注

詳細(xì)介紹

、文物簡(jiǎn)介

    文物因其特殊的屬性而具有較高的觀賞價(jià)值和經(jīng)濟(jì)價(jià)值，正因?yàn)檫@樣，大量的假貨、贗品充斥市場(chǎng)也就在所難免了，為了辯識(shí)文物的真?zhèn)?，文物鑒定工作越來(lái)越受到社會(huì)各界的廣泛關(guān)注。文物鑒定在中大百科書(shū)中被定義為：運(yùn)用科學(xué)方法分析、辯識(shí)文物年代、真?zhèn)?、質(zhì)地、用途和價(jià)值的工作。這里所說(shuō)的科學(xué)方法包括通常所說(shuō)的傳統(tǒng)鑒定方法和現(xiàn)代分析方法，傳統(tǒng)的鑒定方法是指憑借自古以來(lái)人們?cè)趯?duì)文物進(jìn)行的研究、鑒識(shí)中積累的經(jīng)驗(yàn)，基于器型學(xué)、金石學(xué)以及考古地層學(xué)的理論，以分類、比較、辯識(shí)的方法對(duì)器物進(jìn)行直觀的綜合考察，此方法對(duì)鑒定人員的閱歷、經(jīng)驗(yàn)有較高的要求。其鑒定的真實(shí)性、性和性已然受到越來(lái)越多的贗品和高仿復(fù)制品的挑戰(zhàn)，現(xiàn)在，越來(lái)越多的人開(kāi)始將眼光投向了更為客觀的分析方法。
二、文物鑒定
    斷源與斷代是古陶瓷科學(xué)技術(shù)研究中的兩個(gè)重要方面，其中必定要使用到對(duì)古陶瓷標(biāo)本的化學(xué)組成以及記錄其年代信息的載體進(jìn)行測(cè)定的科學(xué)方法。測(cè)定古陶瓷標(biāo)本與各地制陶原料的化學(xué)組成可以確定古陶瓷的產(chǎn)地，并可在定程度上幫助判斷古陶瓷的燒造年代；而通過(guò)檢測(cè)保留在古陶瓷內(nèi)部的記錄其年代信息的各種載體，則可以較的進(jìn)行斷代。
    能量色散X熒光能譜(EDXRF) 是以X射線照射到樣品表面，利用能譜儀測(cè)定各種元素的特征X射線光子的能量和強(qiáng)度，以此來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。這種方法樣品處理很簡(jiǎn)單，分析速度快，測(cè)量元素范圍廣，配合適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)參考物可得到較好的度，對(duì)樣品表面基本無(wú)損傷，如果在儀器定制時(shí)加裝真空大樣品室，就可以進(jìn)行大器物的無(wú)損測(cè)試了。綜合這些優(yōu)點(diǎn)，可以認(rèn)為它是目前進(jìn)行古陶瓷無(wú)損鑒定比較好的種方法。
    陶瓷器的鑒定曾經(jīng)度受到不可采樣的限制，僅對(duì)些大型器物底部取樣作些熱釋光的年代分析工作，些者甚至利用射線源對(duì)新燒的仿制品進(jìn)行輻照處理，以期對(duì)熱釋光的檢測(cè)造成假象，干擾測(cè)試結(jié)果的結(jié)論。自打八十年代以來(lái)，大樣品室的X射線熒光能譜儀問(wèn)世，瓷器的釉表面成分原位無(wú)損檢測(cè)既成事實(shí)，為瓷器的真?zhèn)闻袆e引入了種新的方法。近兩年，由于河南汝窯遺址的發(fā)現(xiàn)，文物市場(chǎng)上時(shí)間汝窯瓷器泛濫，各種形制、顏色的汝窯器著實(shí)讓人眼花繚亂。在使用X射線熒光能譜儀對(duì)其瓷釉表面成分進(jìn)行無(wú)損分析的過(guò)程中粗略統(tǒng)計(jì)了下，民間收藏的待測(cè)品九成以上都是假貨，其中大多數(shù)瓷釉成分中含有現(xiàn)代瓷釉制造的添加劑，而這些組分是宋代瓷釉中不可能出現(xiàn)的成分，用能譜儀檢測(cè)此類器物可謂是輕而易舉、手到擒來(lái)。我們知道絕大多數(shù)瓷釉的基本組分是由十種元素即：鈉、鎂、鋁、硅、磷、鉀、鈣、鈦、錳、鐵的氧化物構(gòu)成，不同時(shí)代、窯口燒造的瓷釉其組成成分的配比是有區(qū)別的，正因如此，我們可對(duì)大量經(jīng)科學(xué)考古發(fā)掘的有確定年代和出土地點(diǎn)依據(jù)的參考瓷片釉層成分做出成分配比的數(shù)值分布范圍，將受鑒定樣品的成分配比與相應(yīng)時(shí)代的參考片成分進(jìn)行比對(duì)，據(jù)此判斷被檢樣品在成分構(gòu)成上的性，實(shí)踐證明，當(dāng)前文物市場(chǎng)中周轉(zhuǎn)的陶瓷器文物，有半數(shù)以上成分配比與古瓷片有較大差距，另有相當(dāng)部分含有古代瓷器瓷釉中所沒(méi)有的組成成分，如氧化鋅、氧化鋇、氧化鋯等現(xiàn)代瓷釉添加劑，對(duì)于這類贗品瓷器，通過(guò)成分檢測(cè)可以非常容易的認(rèn)定其屬性。如仿汝瓷釉含氧化鋯、氧化鋅。
三、解決方案

EDX3600L利用中歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測(cè)的部門提供的標(biāo)準(zhǔn)陶瓷片樣品為儀器標(biāo)定基準(zhǔn)標(biāo)樣，次性同時(shí)分析古陶瓷標(biāo)本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學(xué)成份含量，再對(duì)照中古陶瓷數(shù)據(jù)庫(kù)便可以達(dá)到斷代斷源的功效。同時(shí)，為了更好的利用X熒光分析儀器的無(wú)損測(cè)量特性，我公司特意根據(jù)行業(yè)需要制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測(cè)。

生產(chǎn)的EDX3600L系列的儀器是款專門針對(duì)于古文物檢測(cè)而量身定做的無(wú)損測(cè)量的能量色散X熒光分析儀器，其技術(shù)參數(shù)如下：
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99%
同時(shí)分析元素：同時(shí)可以分析30種以上元素
測(cè)量鍍層：鍍層厚度測(cè)量薄至0.01微米
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體
測(cè)量時(shí)間：30s—200s
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
輸入電壓：AC 110V/220V
消耗功率：200W
環(huán)境溫度: 15-26℃
相對(duì)濕度: ≤70%

標(biāo)準(zhǔn)配置

超薄窗大面積的Fast SDD探測(cè)器
數(shù)字多道系統(tǒng)
可自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
內(nèi)置高清晰攝像頭
加強(qiáng)的金屬元素感度分析器
智能元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡(jiǎn)單。
面光源
放大電路
高低壓電源
X光管
多變量非線性回歸程序
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
三重安保護(hù)模式
外觀尺寸： 800×710×1360 mm
樣品腔尺寸：600×600×800mm
重量：280kg

應(yīng)用領(lǐng)域

古陶瓷
古青銅器
古首飾

鍍層測(cè)厚

我公司研制生產(chǎn)的EDX3600L型的儀器，利用中歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測(cè)的部門提供的標(biāo)準(zhǔn)陶瓷片樣品為儀器標(biāo)定基準(zhǔn)標(biāo)樣，次性同時(shí)分析古陶瓷標(biāo)本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學(xué)成份含量，再對(duì)照中古陶瓷數(shù)據(jù)庫(kù)便可以達(dá)到斷代斷源的功效。同時(shí)為了更好的利用X熒光分析儀器的無(wú)損測(cè)量特性，我公司特意根據(jù)行業(yè)需要制作超大型的抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測(cè)。

EDX3600L型的儀器再測(cè)試陶瓷的同時(shí)亦可以測(cè)試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化學(xué)成份和金屬鍍層厚度，做到機(jī)多用，是古文物檢測(cè)的科學(xué)檢測(cè)儀器。
中歷史博物館、中收藏家協(xié)會(huì)等古文物收藏部門亦在使用我公司的此種儀器做為古文物的鑒定和研究。
如下則是測(cè)試黑釉陶瓷梅瓶的實(shí)例，附上譜型及測(cè)試結(jié)果：

測(cè)量結(jié)果：
元素                 強(qiáng)度                      含量%
Na                     13.9                         1.115
Mg                     17.3                         1.407
Al                     18.3                         13.962
Si                     560.1                        72.011
P                     7.0                           0.171
K                     75.8                         3.131
Ca                     164.2                        4.073
Ti                     2.4                          0.076
V                      3.1                          0.016
Mn                     34.8                         0.037
Fe                     157.4                        1.029

是專業(yè)生產(chǎn)X熒光光譜儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,鍍層測(cè)厚儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測(cè)厚儀，，ROHS測(cè)量儀，，ROHS2.0分析儀，XRF，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測(cè)儀， ROHS檢測(cè)儀器，手持式等，涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GC-MS6800，ICP-MS2000等。