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HAST高加速應力老化測試
（高加速溫濕度偏壓壽命測試）是在標準HAST基礎上施加工作電壓或特定電偏置的加速可靠性試驗，專門評估芯片在高溫、高濕、高壓且通電工作狀態(tài)下與電化學效應相關的失效機制（如腐蝕、離子遷移）。
HAST高加速應力老化測試
目的
加速電化學失效
在高溫高濕環(huán)境下施加偏壓，極速誘發(fā)：
金屬導線/焊盤的電化學腐蝕（陽極溶解）
金屬離子遷移（如Cu遷移導致短路）
鈍化層缺陷處的電解反應
鍵合界面/焊點腐蝕
驗證長期工作可靠性
模擬芯片在潮濕環(huán)境中長期通電工作的退化場景（如汽車電子、戶外設備）。
Bias-HAST是半導體芯片可靠性鑒定中最嚴苛的測試之一，尤其對車規(guī)（AEC-Q100）、工控、高可靠性需求芯片至關重要。其核心價值在于：
? 短時間（加速數(shù)百倍）暴露偏壓+濕熱協(xié)同作用引發(fā)的失效；
? 驗證芯片在潮濕環(huán)境長期通電的生存能力；
? 驅(qū)動工藝/設計改進（如金屬堆疊優(yōu)化、鈍化層加固）。
成功關鍵在于精準的偏置設計（模擬最劣工況）與失效分析深度（定位至物理機理）。
HAST高加速壽命試驗箱
主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。
設備特點
標準設計更安全：內(nèi)膽采用圓弧設計防止結(jié)露滴水，符合國家安全容器規(guī)范；
多重保護功能：各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機保護；
穩(wěn)定性更高：內(nèi)置自研PID控制算法，確保溫度、濕度以及壓力值準確度。
濕度自由選擇：飽和與非飽和自由設定；
智能化高：支持電腦連接，利用usb數(shù)據(jù)、曲線導出保存。
技術規(guī)格
| 型號 | HAST-400 | ||||||
| 溫度范圍 | +105℃~+150℃ | ||||||
| 主機尺寸 | 970MM*710MM*1700MM(W*D*H) | ||||||
| 濕度范圍 | 65%~10 0%RH | ||||||
| 壓力范圍 | 0.019~0.208MPA | ||||||
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